Kitajska FCM2000W Tip računalnika Metalografski mikroskop Tovarna in proizvajalci |Chengyu

Metalografski mikroskop vrste računalnika FCM2000W Prikazana slika

FCM2000W Računalniški metalografski mikroskop

Specifikacija

FCM2000W Uvod

Računalniški metalografski mikroskop FCM2000W je trinokularni invertni metalografski mikroskop, ki se uporablja za identifikacijo in analizo kombinirane strukture različnih kovin in zlitin.Široko se uporablja v tovarnah ali laboratorijih za identifikacijo kakovosti ulitkov, inšpekcijo surovin ali po obdelavi materiala.Analiza metalografske strukture in raziskovalno delo na nekaterih površinskih pojavih, kot je površinsko pršenje;metalografska analiza jekla, materialov iz neželeznih kovin, ulitkov, prevlek, petrografska analiza geologije in mikroskopska analiza spojin, keramike itd. na industrijskem področju učinkovita sredstva raziskovanja.

Mehanizem za ostrenje

Sprejet je mehanizem za grobo in fino nastavitev koaksialnega ostrenja v spodnjem položaju, ki ga je mogoče nastaviti na levi in desni strani, natančnost natančne nastavitve je visoka, ročna nastavitev je preprosta in priročna, uporabnik pa lahko zlahka pridobi jasno in udobno podobo.Hod grobe nastavitve je 38 mm, natančnost natančne nastavitve pa 0,002.

Mehanska mobilna platforma

Sprejema obsežno platformo 180 × 155 mm in je nastavljena v desni položaj, kar je v skladu z delovnimi navadami običajnih ljudi.Med delovanjem uporabnika je priročno preklapljati med mehanizmom za ostrenje in premikanjem platforme, kar uporabnikom zagotavlja učinkovitejše delovno okolje.

Sistem razsvetljave

Osvetlitveni sistem Kola tipa Epi z diafragmo s spremenljivo zaslonko in diafragmo z nastavljivo sredino, uporablja prilagodljivo široko napetost 100 V–240 V, 5 W visoko svetlost in dolgo življenjsko dobo LED osvetlitve.

Konfiguracijska tabela FCM2000W

Konfiguracija		Model
Postavka	Specifikacija	FCM2000W
Optični sistem	Optični sistem s končno aberacijo	·
opazovalna cev	Nagib 45°, trinokularna opazovalna cev, območje nastavitve medzenične razdalje: 54-75 mm, razmerje cepitve žarka: 80:20	·
okular	Okular PL10X/18 mm z visoko očesno točko in velikim poljem	·
	Okular z velikim poljem z visoko točko PL10X/18 mm z mikrometrom	O
	Okular z visokim očesnim poljem z velikim poljem WF15X/13 mm z mikrometrom	O
	Okular z velikim poljem z visoko točko WF20X/10 mm z mikrometrom	O
Objektivi (Akromatski objektivi z dolgim razdaljem)	LMPL5X /0,125 WD15,5 mm	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7 mm	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8 mm	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1 mm	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00 mm	O
pretvornik	Notranji pozicionirni pretvornik s štirimi luknjami	·
pretvornik	Notranji pozicionirni pretvornik s petimi luknjami	O
Mehanizem za ostrenje	Koaksialni mehanizem za ostrenje za grobo in fino nastavitev v nizkem položaju roke, hod na obrat grobega gibanja je 38 mm;natančnost natančne nastavitve je 0,02 mm	·
Stopnja	Troslojna mehanska mobilna platforma, površina 180 mm X 155 mm, desno nizko upravljanje, hod: 75 mm × 40 mm	·
delovna miza	Kovinska odrska plošča (sredinska luknja Φ12 mm)	·
Epi-osvetlitveni sistem	Sistem razsvetljave Kola tipa Epi, z zaslonko s spremenljivo odprtino zaslonke in sredinsko nastavljivo diafragmo polja, prilagodljivo široko napetostjo 100 V–240 V, enojno 5 W toplo barvno LED lučjo, intenzivnost svetlobe je nastavljiva	·
Epi-osvetlitveni sistem	Osvetlitveni sistem Kola tipa Epi, z zaslonko s spremenljivo zaslonko in sredinsko nastavljivo poljsko zaslonko, prilagodljiva široka napetost 100V-240V, halogenska žarnica 6V30W, svetlobna jakost zvezno nastavljiva	O
Polarizacijski dodatki	Polarizatorska plošča, fiksna analizatorska plošča, 360° vrtljiva analizatorska plošča	O
barvni filter	Rumeni, zeleni, modri, motni filtri	·
Sistem za metalografsko analizo	Programska oprema za metalografsko analizo JX2016, 3-milijonska kamera, 0,5-kratni adapterski vmesnik za objektiv, mikrometer	·
računalnik	Poslovno letalo HP	O

Opomba:“· "standard;"O"neobvezno

Programska oprema JX2016

"Profesionalni računalniški operacijski sistem za kvantitativno analizo metalografske slike", ki ga konfigurira sistem za analizo metalografske slike, obdeluje in sprotno primerjavo, odkrivanje, ocenjevanje, analizo, statistiko in izhodna grafična poročila zbranih vzorcev zemljevidov.Programska oprema združuje današnjo napredno tehnologijo analize slike, ki je popolna kombinacija metalografskega mikroskopa in tehnologije inteligentne analize.DL/DJ/ASTM itd.).Sistem ima vse kitajske vmesnike, ki so jedrnati, jasni in enostavni za upravljanje.Po preprostem usposabljanju ali sklicevanju na priročnik z navodili ga lahko prosto upravljate.Zagotavlja tudi hitro metodo za učenje metalografske zdrave pameti in popularizacijo operacij.

Funkcije programske opreme JX2016

Programska oprema za urejanje slik: več kot deset funkcij, kot sta pridobivanje in shranjevanje slik;

Programska oprema za slike: več kot deset funkcij, kot so izboljšava slike, prekrivanje slike itd.;

Programska oprema za merjenje slik: na desetine merilnih funkcij, kot so obseg, površina in odstotna vsebina;

Izhodni način: izpis podatkovne tabele, izpis histograma, izpis slike.

Namenski programski paketi za metalografijo:

Merjenje in ocenjevanje velikosti zrn (ekstrakcija mej zrn, rekonstrukcija mej zrn, enofazna, dvofazna, meritev velikosti zrn, ocena);

Merjenje in ocenjevanje nekovinskih vključkov (vključno s sulfidi, oksidi, silikati itd.);

Merjenje in ocena vsebnosti perlita in ferita;merjenje in ocena nodularnosti grafita iz nodularne litine;

Razogljičen sloj, merjenje naogljičenega sloja, merjenje debeline površinskega premaza;

Merjenje globine zvara;

Merjenje faznih površin feritnih in avstenitnih nerjavnih jekel;

Analiza primarnega silicija in evtektičnega silicija iz aluminijeve zlitine z visoko vsebnostjo silicija;

Analiza materiala iz titanove zlitine itd.;

Vsebuje metalografske atlase skoraj 600 pogosto uporabljenih kovinskih materialov za primerjavo, ki izpolnjujejo zahteve večine enot za metalografsko analizo in pregled;

Zaradi nenehnega naraščanja novih materialov in uvoženih kakovostnih materialov je mogoče materiale in standarde vrednotenja, ki niso bili vneseni v programsko opremo, prilagoditi in vnesti.